型號

1100

2100

3100

4100

MINITEST 存儲的數據量

應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數)

1

1

10

99

每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計，可設寬容度極限值)

-

1

10

99

可用各自的日期和時間標識特性的組數

-

1

500

500

數據總量

1

10000

10000

10000

MINITEST統計計算功能

讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar

-

√

√

√

讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

-

-

√

√

組統計值六種x,s,n,max,min,kvar

-

-

√

√

組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

-

-

√

√

存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據

-

-

-

√

分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值

-

-

√

√

顯示并打印測量值、打印的日期和時間

-

√

√

√

其他功能

透過涂層進行校準(CTC)

-

√

√

√

在粗糙表面上作平均零校準

√

√

√

√

利用計算機進行基礎校準

√

√

√

√

補償一個常數(Offset)

-

-

√

√

外設的讀值傳輸存儲功能

-

√

√

√

保護并鎖定校準設置

√

√

√

√

更換電池是存儲數值

√

√

√

√

設置極限值

-

-

√

√

公英制轉換

√

√

√

√

連續測量模式快速測量，通過模擬柱識別大小值

-

-

√

√>

連續測量模式中測量穩定后顯示讀數

-

-

√

√>

浮點和定點方式數據傳送

√

√

√

√

組內單值延遲顯示

-

√

√

√

連續測量模式中顯示小值

√

√

√

探頭

量程

低端分辨率

誤差

小曲率半徑(凸/凹)

小測量區域直徑

小基體厚度

探頭尺寸

F05

0-500μm

0.1μm

±(1%±0.7μm)

1/5mm

3mm

0.2mm

φ15x62mm

F1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x170mm

F3

0-3000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F10

0-10mm

5μm

±(1%±10μm)

5/16mm

20mm

1mm

φ25x46mm

F20

0-20mm

10μm

±(1%±10μm)

10/30mm

40mm

2mm

φ40x66mm

F50

0-50mm

10μm

±(3%±50μm)

50/200mm

300mm

2mm

φ45x70mm

N02

0-200μm

0.1μm

±(1%±0.5μm)

1/10mm

2mm

50μm

φ16x70mm

N.08Cr

0-80μm

0.1μm

±(1%±1μm)

2.5mm

2mm

100μm

φ15x62mm

N1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

2mm

50μm

φ15x62mm

N1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x170mm

N10

0-10mm

10μm

±(1%±25μm)

25/100mm

50mm

50μm

φ60x50mm

N20

0-20mm

10μm

±(1%±50μm)

25/100mm

70mm

50μm

φ65x75mm

N100

0-100mm

100μm

±(1%±0.3mm)

100mm/平面

200mm

50μm

φ126x155mm

CN02

10-200μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面

7mm

無限制

φ17x80mm

FN1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F：0.5mm
N：50μm

φ15x62mm

FN1.6P

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面

30mm

F：0.5mm
N：50μm

φ21x89mm

FN2

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F：0.5mm
N：50μm

φ15x62mm

注：

F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內測量。
N.08Cr適合銅上鉻，FN2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

FN1.6
0～1600μm,φ5mm
兩用測頭，可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)

FN1.6P
0～1600μm,φ30mm
兩用測頭，特別適合測粉末狀的覆層厚度

F05
0～500μm,φ3mm
磁性測頭，適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層，如金屬鍍層，氧化層等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)

F1.6
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭
量程低端分辨率很高(0.1μm

F3
0～3000μm,φ5mm
磁性測頭
可用于較厚的覆層

F1.6/90
0～1600μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)

F10
0～10mm,φ20mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等

F20
0～20mm,φ40mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層，如玻璃、塑膠、混凝土等

F50
0～50mm,φ300mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層

N02
0～200μm,φ2mm
非磁性測頭，尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)

N0.8Cr
0～80μm,φ2mm
適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層

N1.6
0～1600μm,φ2mm
非磁性測頭，適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)

N1.6/90
0～1600μm,φ5mm
磁性測頭，適于測量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)

N10
0～10mm,φ50mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等

N20
0～20mm,φ70mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等

N100
0～100mm,200mm
非磁性測頭，適于測量較厚的絕緣覆層，如橡膠玻璃等

CN02
10～200μm,φ7mm
用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層，如覆銅板