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當(dāng)前位置:首頁新聞中心德國EPKMiniTest720/730/740涂層測厚儀

德國EPKMiniTest720/730/740涂層測厚儀

更新時間:2017-07-12點擊次數(shù):349

德國EPKMiniTest720/730/740涂層測厚儀 產(chǎn)品介紹:

-    新的MiniTest700涂層測厚儀產(chǎn)品線,加強了德國EPK(Elektrophysik)公司在涂層測厚的
-    創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理)技術(shù)提升了測量的性
-    測量范圍達15mm,可F、N或FN探頭,提供內(nèi)置或外接探頭
-    FN探頭自動識別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體,操作方便不易出錯

 

德國EPKMiniTest720/730/740涂層測厚儀  產(chǎn)品特點:

 

-    SIDSP使測量不受干擾,測值更加
-    可更換探頭使用更加靈活(MiniTest740探頭可由內(nèi)置換為外置)
-    FN探頭自動識別基體,使測量更迅速,避免操作錯誤
-    溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
-    生產(chǎn)過程中50點校準(zhǔn)使儀器獲得高度的特征曲線
-    大存儲量,能存儲10或100組多達100,000個讀數(shù)
-    讀數(shù)和統(tǒng)計值能單獨調(diào)出
-    超大,背光顯示屏,顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
-    菜單指引操作,25種語言可選
-    帶IrDA接口,紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機和PC
-    可下載更新軟件

 

德國EPKMiniTest720/730/740涂層測厚儀  技術(shù)參數(shù):

 

 

 

主機型號

MiniTest720

MiniTest730

MiniTest740

探頭類型

內(nèi)置

外置

內(nèi)置外置可換

數(shù)據(jù)記憶組數(shù)

10

10

100

存儲數(shù)據(jù)量

10,000

10,000

100,000

統(tǒng)計值

讀值個數(shù)、小值、大值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)方差、變異系數(shù)、組統(tǒng)計值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置)

校準(zhǔn)程序符合標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范

ISOSSPC、瑞典標(biāo)準(zhǔn)、澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)

校準(zhǔn)模式

出廠設(shè)置校準(zhǔn)、零點校準(zhǔn)、兩點校準(zhǔn)、三點校準(zhǔn),使用者可調(diào)節(jié)補償值

極限值監(jiān)控

聲、光報警提示超過極限

測量單位

μmmmcmmilsinchthou

數(shù)據(jù)接口

IrDA 1.0(紅外接口)

電源

2節(jié)AA電池

標(biāo)準(zhǔn)

DIN EN ISO 14612064217823602808388219840
ASTM B244B499D7091E376
AS 3894.3SS 1841 60SSPC- PA 2

操作溫度 /存放溫度

- 10~60/- 20~70

體積

157mm x 75.5mm x 49mm

重量

175g

210g

175g(內(nèi)置)/230g(外置)

 

探頭特性

F1.5N07FN1.5

F2

F5N2.5FN5

F15

F

N

F

F

N

F

測量范圍

0~1.5mm

0~0.7mm

0~2mm

0~5mm

0~2.5mm

0~15mm

使用范圍

小工件,薄涂層

粗糙表面

標(biāo)準(zhǔn)探頭,使用廣泛

厚涂層

測量原理

磁感應(yīng)

電渦流

磁感應(yīng)

磁感應(yīng)

電渦流

磁感應(yīng)

信號處理

探頭內(nèi)部32位信號處理(SIDSP)

±(1μm+0.75%讀值)

±(1.5μm+0.75%讀值)

±(5μm+0.75%讀值)

重復(fù)性

±(0.5μm+0.5%讀值)

±(0.8μm+0.5%讀值)

±(2.5μm+0.5%讀值)

低端分辨率

0.05μm

0.1μm

1μm

小曲率半徑()

1.0mm

1.5mm

5mm

小曲率半徑

(凹,外置探頭)

7.5mm

10mm

25mm

(凹,內(nèi)置探頭)

30mm

30mm

30mm

小測量面積

Ø5mm

Ø10mm

Ø25mm

小基體厚度

0.3mm

40μm

0.5mm

0.5mm

40μm

1mm

連續(xù)模式下測量速度

每秒20個讀數(shù)

單值模式下大測量速度

每分鐘70個讀數(shù)